干貨分享|愛普生晶體CE測試為工程師排憂解難！

　　晶體是一個重要的被動器件，如果晶體的頻率不穩，甚至不起振，就會導致設備屏幕閃爍，時間不準確，通訊失敗等情況。

　　負載電容是影響晶體頻率的重要參數，負載電容也叫CL，當CL滿足一定條件，才會輸出目標頻率。比如參數為12.5pF，32.768kHz，±20ppm的晶體。指的是當CL=12.5pF時，就是外圍所有電容的集合為12.5pF時，輸出的頻率才是32.768 kHz ，±20ppm。

　　因此晶體的選型匹配十分重要，愛普生為客戶提供晶體回路匹配測試，簡稱CE測試。客戶提供原理圖和電路板，我們進行CL的調整，評估輸出頻率，驅動功率，起振能力，使其工作在一個穩定的、適合的狀態。正所謂：

　　時鐘偏差問題多，

　　工程采購不背鍋。

　　罪魁禍首是晶體?

　　CE測試好處多。

點擊上圖↑可在線欣賞CE測試視頻

　　通過上面的視頻，大家對CE測試一定有了更深入的了解。如需了解CE測試相關流程可通過郵件咨詢：ecc-electronicdevice@ecc.epson.com.cn，同時自2024年12月起，部分愛普生的授權代理商也會開始提供面向社會的CE測試，屆時將有更多客戶可以享受這項服務。

　　愛普生還上線了選型與購買系統“愛普生電子元器件易選中心” (愛普生電子元器件易選中心_電子元器件 - 愛普生中國 (epson.com.cn)，對不同人群提供了多種選型指南與購買方式，可謂“一鍵選型，送貨到家。快來嘗試一下吧!

　　(*客戶選型后由愛普生授權第三方提供銷售與配送服務，愛普生不對第三方行為負責。)