數優|慕尼黑上海光博會VisionChina 2019圓滿落幕，我們明年再會！

　　3月20日-3月22日，歷時三天，眾星云集的慕尼黑上海光博會VisionChina2019在上周五于上海新國際博覽中心圓滿收官，數優人工智能作為工業領域人工智能缺陷檢測的領導者，帶著業界的認可、客戶的贊譽滿載而歸。

　　1展位號：W5.5216

　　視覺系統設計 媒體采訪中

　　本次展會數優人工智能展臺位于W5館5216，數優人工智能以“專注深度學習、深耕工業檢測”為主題，帶來了全球領先的深度學習缺陷檢測技術應用和全新的手機外觀全檢的“人工智能”產品，和觀眾一起探討了工業檢測智能制造的無限可能。

　　2、機器視覺技術及工業應用研討會

　　中國區總經理韓旭先生演講現場

　　“人工智能”這個詞已經飛入尋常百姓家，人工智能缺陷檢測的公司已在中國遍地開花，此次演講數優的韓總解讀了數優在缺陷檢測領域為何是領導者的身份，帶來了數優最新的核心技術分享以及在智能制造產線上的實際案例，現場座無虛席眾多觀眾蒞臨聽講。

　　3、SuaKIT新技術

　　數優最新升級的人工智能算法軟件SuaKIT2.2.4，重新定義了AI缺陷檢測。新技術的研發使得缺陷檢測更精準、更高效，這次技術升級帶來了以下技術優勢：

　　1、能夠輕松應對頻繁更換檢測產品的情況，無需重新建立神經網絡;

　　2、單一圖片數據也可以輕松建立神經網絡;

　　3、可視化調試，打開了“黑匣子”，提高檢測的準確度;

　　4、獨有的自動標記功能，極大地降低了人工標記的時間;

　　5、新舊產品更替可以平穩過度，零對接時間;

　　6、利用GPU及算法優化提高檢測速度，可以實現高速產線的實時檢測(最高速度超過10m/s)

　　繼續訓練

　　通過繼續訓練縮短建網訓練時間，減少訓練圖片數量;利用之前訓練的神經網絡，客戶可以最小化統一行業中新產品的訓練時間和訓練圖像的數量。

　　邊界數據

　　向用戶展示介于正常和缺陷之間的邊界數據，抽取出會影響到模型性能的圖片，經過分析之后可以非常容易地提高模型的性能。

　　圖像對比

　　重點學習兩幅圖片之間的差距，即使改變了光學條件，也能盡量減少費用并檢查出缺陷。

　　多圖像分析

　　同一產品在不同的光學條件下拍攝時，通過分析圖片之間的相互關系以提高檢測能力，如把圖片打包檢測，處理時間可以大大縮短。

　　可視化糾錯

　　可以將深度學習算法分析并分類的過程可視化。此功能可以檢測軟件是否在按照使用者的意圖進行訓練。

　　為期三天的展會，我們與業界資深人員進行了熱烈而深入的交流，尋求共贏合作，展會后也歡迎大家帶著檢測樣品或者是圖片來咨詢我們。2020年3月18日至20日，期待與您再次相會上海新國際展覽中心!